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超聲波掃描(SAM)
所屬分類(lèi)
無(wú)損檢測
產(chǎn)品描述
簡(jiǎn)介：
超聲波顯微鏡 (SAT)是Scanning Acoustic Tomography 的簡(jiǎn)稱(chēng)，又稱(chēng)為SAM (Scanning Acoustic Microscope)。此檢測為應用超聲波與不同密度材料的反射速率及能量不同的特性來(lái)進(jìn)行分析。 利用純水當介質(zhì)傳輸超聲波信號，當訊號遇到不同材料的界面時(shí)會(huì )部分反射及穿透，此種發(fā)射回波強度會(huì )因為材料密度不同而有所差異，掃描聲學(xué)顯微鏡就是利用此特性，來(lái)檢驗材料內部的缺陷并依所接收的信號變化將之成像。
目的：
無(wú)損檢測電子元器件、LED、金屬基板的分層、裂紋等缺陷（裂紋、分層、空洞等）；通過(guò)圖像對比度判別材料內部聲阻抗差異、確定缺陷形狀和尺寸、確定缺陷方位。
應用范圍：
塑料封裝IC、晶片、PCB、LED
測試步驟：
確認樣品類(lèi)型、選擇頻率探頭、放置測量裝置中、選擇掃描模式、掃描圖像、缺陷分析
依據標準：
IPC/JEDEC J-STD-035 ,IPC/JEDEC J-STD-020, MIL-STD 883G, GJB 548B
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三維立體成像X射線(xiàn)顯微鏡在元器件失效分析中的應用
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