檢測項目
聚焦離子束分析（FIB）
1、聚焦離子束技術(shù)（FIB）聚焦離子束技術(shù)（Focused Ion beam，FIB）是利用電透鏡將離子束聚焦成非常小尺...
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X射線(xiàn)光電子能譜分析（XPS）
1. X射線(xiàn)光電子能譜技術(shù)X射線(xiàn)光電子能譜技術(shù)（X-ray photoelectron spectroscopy，簡(jiǎn)稱(chēng)X...
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動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜分析（D-SIMS）
1. 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜技術(shù)二次離子質(zhì)譜技術(shù)（Dynamic Secondary Ion Mass Spectrome...
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飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜分析（TOF-SIMS）
1. 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜技術(shù)飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜技術(shù)（Time of Flight Secondary Ion Mas...
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俄歇電子能譜分析（AES）
1.俄歇電子能譜技術(shù)（AES）俄歇電子能譜技術(shù)（Auger electron spectroscopy，簡(jiǎn)稱(chēng)AES），是...
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配方分析
配方分析是從樣品的分析需求出發(fā),系統考慮采取不同物理、化學(xué)的分離提純的技術(shù)和方法將樣品中的各個(gè)組分分離開(kāi)并進(jìn)行純化,然后...
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